ОПИСАНИЕ СЕКЦИИ

Cекция посвящена тематике создания и контроля работоспособности изделий микроэлектроники и оптоэлектроники общего и специального назначения, в том числе, радиационно-стойких, а именно: – микропроцессоров и микроконтроллеров, микросхемы обработки сигналов;

— ПЛИС, БМК, АЦБК, микросхем памяти, интерфейсных схем; – аналого-цифровых и цифроаналоговых преобразователей, систем сбора и обработки данных;

— аналоговых микросхем, стабилизаторов и преобразователей напряжения, источников питания; –СФ-блоков, СнК и СвК на их основе;

— изделий оптоэлектроники и радиофотоники;

– особенностям проектирования и испытаний радиационно-стойких и/или информационно-защищенных (доверенных) микросхем, электронных модулей, комплексов и систем специального назначения;

— методикам и аппаратно-программным средствам для тестирования и контроля работоспособности изделий микро- и оптоэлектроники;

— вопросам обеспечения и контроля качества, надежности и радиационной стойкости изделий на всех этапах жизненного цикла с учетом влияния режимов, условий и сроков эксплуатации;

— вопросам информационной безопасности, идентификации и выявления контрафактных изделий.

МОДЕРАТОРЫ СЕКЦИИ

Бобков Сергей Геннадьевич,
доктор технических наук, профессор,
зам.директора ИППМ РАН

Никифоров Александр Юрьевич,
доктор технических наук, профессор,
ИЭПЭ НИЯУ МИФИ

Максимов Юрий Викторович,
АО “ИСС”

РЕГИСТРАЦИЯ