ОПИСАНИЕ СЕКЦИИ

Cекция посвящена тематике создания и контроля работоспособности изделий микроэлектроники и оптоэлектроники общего и специального назначения, в том числе, радиационно-стойких, а именно:
– микропроцессоров и микроконтроллеров;
– ПЛИС, БМК, АЦБК, микросхем памяти, интерфейсных схем;
– аналого-цифровых и цифроаналоговых преобразователей, систем сбора и обработки данных;
– аналоговых микросхем, стабилизаторов и преобразователей напряжения, источников питания;
– СФ-блоков, систем на кристалле(СнК) и систем в корпусе (СвК) на их основе, в том числе, реализованных в условиях контрактных производств;
– изделий оптоэлектроники и радиофотоники;
– особенностям проектирования и испытаний радиационно-стойких и/или информационно-защищенных (доверенных) микросхем, электронных модулей, комплексов и систем специального назначения;
– методикам и аппаратно-программным средствам для тестирования и контроля работоспособности изделий микро- и оптоэлектроники;
– вопросам обеспечения и контроля качества, надежности и радиационной стойкости изделий на всех этапах жизненного цикла с учетом влияния режимов, условий и сроков эксплуатации;
– вопросам информационной безопасности, идентификации и выявления контрафактных изделий.

МОДЕРАТОРЫ СЕКЦИИ

Бобков Сергей Геннадьевич,
доктор технических наук, профессор,
зам.директора ИППМ РАН

Никифоров Александр Юрьевич,
доктор технических наук, профессор,
ИЭПЭ НИЯУ МИФИ

РЕГИСТРАЦИЯ