Мы используем cookie файлы, как и большинство сайтов в интернете. Гарантируем сохранность ваших персональных данных.
Трек обзорно-дискуссионных заседаний

Доверенные ПАК и ЭКБ для критической гражданской инфраструктуры

26-27 cентября 2024
Парк науки и искусства «Сириус»

Трек обзорно-дискуссионных заседаний «Доверенные ПАК и ЭКБ для критической гражданской инфраструктуры»

Модераторы
Никифоров Александр Юрьевич
Доктор технических наук, профессор,
ЦЭПЭ НИЯУ МИФИ
Кессаринский Леонид Николаевич
Кандидат технических наук, заместитель директора АИЦ ИБСЗИ
НИЯУ МИФИ
Развивая успешный опыт работы Секции №5 на прошлых Форумах «Микроэлектроника» секция «Доверенные ПАК и ЭКБ для критической гражданской инфраструктуры» будет проводиться в форматах обзорных докладов, докладов и сообщений участников на Предконференции «Доверенные и экстремальные электронные системы», которая состоится в Москве с 9 по 12 сентября 2024 года, и трека обзорно-дискуссионных заседаний на основной части Форума.

Трек посвящен тематике создания и контроля работоспособности изделий микроэлектроники и оптоэлектроники общего и специального назначения, в том числе, радиационно-стойких, а именно:

– микропроцессоров и микроконтроллеров;
– ПЛИС, БМК, АЦБК, микросхем памяти, интерфейсных схем;
– аналого-цифровых и цифроаналоговых преобразователей, систем сбора и обработки данных;
– аналоговых микросхем, стабилизаторов и преобразователей напряжения, источников питания;
– СФ-блоков, систем на кристалле (СнК) и систем в корпусе (СвК) на их основе, в том числе, реализованных в условиях контрактных производств;
– изделий оптоэлектроники и радиофотоники;
– особенностям проектирования и испытаний радиационно-стойких и/или информационно-защищенных (доверенных) микросхем, электронных модулей, комплексов и систем специального назначения;
– методикам и аппаратно-программным средствам для тестирования и контроля работоспособности изделий микро- и оптоэлектроники;
– вопросам обеспечения и контроля качества, надежности и радиационной стойкости изделий на всех этапах жизненного цикла с учетом влияния режимов, условий и сроков эксплуатации;
– вопросам информационной безопасности, идентификации и выявления контрафактных изделий.