Мы используем cookie файлы, как и большинство сайтов в интернете. Гарантируем сохранность ваших персональных данных.
Трек обзорно-дискуссионных заседаний
Доверенные ПАК и ЭКБ для критической гражданской инфраструктуры
2426 сентября 2025
Университет «Сириус» Зал №5
Руководитель трека
Никифоров Александр Юрьевич
Доктор технических наук, профессор,
заместитель директора ЦЭПЭ НИЯУ МИФИ
Заместитель руководителя трека
Кессаринский Леонид Николаевич
Кандидат технических наук, заместитель директора АИЦ ИБСЗИ
НИЯУ МИФИ
Программа Трека
В программе возможны изменения
24 сентября 2025
10:00 – 10:05
Открытие и программа трека обзорно-дискуссионных заседаний
д.т.н., проф. Никифоров Александр Юрьевич, НИЯУ МИФИ
Заседание 1. «Доверенная ЭКБ микроэлектроники - новая категория качества и безопасности для регулируемых рынков КИИ»
Модераторы:
д.т.н., проф. Никифоров Александр Юрьевич, НИЯУ МИФИ,
Гапонов Александр Алексеевич, Минпромторг России
Рассмотрим гипотезу, что две существующие категории качества ЭКБ – специальные (с приемкой ВП) и народно-хозяйственные (с приемкой ОТК) не актуальны для реализации и нормативного обеспечения комплектования ПАК и систем для регулируемых рынков КИИ, финансируемых по государственным, муниципальным и отраслевым заказам.
Представим понятие доверенной ЭКБ как новой категории подтвержденного качества и безопасности в соответствии с требованиями КИИ, рассмотрим аналитику отечественных регулируемых рынков ЭКБ, разработанный ТК167 проект ОТУ на доверенные ИС, подходы к анализу сценариев применения, моделей эксплуатации и угроз безопасности доверенных ИС
10:05 – 10:15
Понятие доверенной ЭКБ микроэлектроники для регулируемых рынков КИИ
д.т.н., проф. Никифоров Александр Юрьевич, НИЯУ МИФИ
10:15 – 10:30
Аналитика емкости регулируемых рынков доверенной ЭКБ для КИИ
Цветников Михаил Юрьевич, ООО «ОСТЭК-ЭК»
10:30 – 10:45
Рациональная структура электронной отрасли – базовая основа обеспечения КИИ доверенной ЭКБ
к.т.н. Басаев Александр Сергеевич, НПК «Технологический центр»
10:45 – 11:00
Общие технические условия на доверенные ИС – правила «санитарии доверенности»
к.т.н. Кессаринский Леонид Николаевич, НИЯУ МИФИ,
ЭАГ и РГ «ДИС» ТК 167
11:00 – 11:15
Доверенные ИС: сценарии применения и модель угроз безопасности
Сидорин Юрий Юрьевич, АО «НТЦ «Атлас»
11:15 – 11:30
Устойчивость и безопасность цепей поставок ЭКБ для КИИ
Пончаков Михаил Юрьевич, ЭАГ «ДИС» ТК 167
11:30-12:00
Кофе-брейк
Заседание 2. Доверенные программируемые логические контроллеры для АСУ ТП КИИ
Модераторы:
Ранчин Сергей Олегович, НИЦ «Курчатовский институт» НИИСИ
к.т.н. Аряшев Сергей Иванович, НИЦ «Курчатовский институт» НИИСИ

Рассмотрим проблемы и перспективы разработки программируемых логических контроллеров для АСУ ТП КИИ, а также принципы и подходы к разработке доверенных микросхем в качестве ключевых технических решений ПЛК (на примере нефтегазовой отрасли), проанализируем особенности построения моделей эксплуатации и угроз ПЛК
12:00 – 12:20
Доверенные ПАК ПЛК для АСУ ТП КИИ на основе отечественной ЭБК
к.т.н. Аряшев Сергей Иванович, НИЦ «Курчатовский институт»НИИСИ
12:20 – 12:40
Практика внедрения ПЛК-Эльбрус на объектах ТЭК
д.т.н. Бычков Игнат Николаевич, ПАО «ИНЭУМ им. И. С. Брука»
12:40 – 13:00
Особенности задания технических требований при проектировании  ПЛК АСУ ТП нефтегазовой отрасли
Бережанский Никита Васильевич, НИЦ «Курчатовский институт» НИИСИ
13:00 – 13:15
Общий подход к созданию защищенных ПЛК АСУ ТП для КИИ
к.т.н. Карантаев Владимир Геннадьевич, АО «Лаборатория Касперского»
13:15 – 13:30
Дискуссия, ответы на вопросы, подведение итогов заседания
13:00-15:00
ОБЕД
25 сентября 2025
Заседание 3. Проблемные вопросы перехода субъектов КИИ на доверенные ПАК, сертификации и нормативного обеспечения доверенных ПАК
Модераторы:
Смазнов Константин Андреевич, ГК «Росатом»
Сорокин Даниил Викторович, АО «НПО «КИС»

Приглашенный эксперт:
Шеина Елизавета Павловна, Минпромторг России
Рассмотрим состояние, проблемы и перспективы перехода субъектов КИИ на доверенные ПАК, подход к обеспечению информационной безопасности значимых объектов КИИ на основе использования доверенных аппаратных платформ. Проанализируем вопросы нормативного регулирования и сертификации доверенных ПАК и ЭКБ для КИИ.
10:00 – 10:20
Нормативный ландшафт перехода субъектов КИИ на доверенные ПАК
Смазнов Константин Андреевич, ГК «Росатом»
10:20 – 10:30
Переход на доверенные ПАК субъектов КИИ топливно-энергетического комплекса
Темирбулатов Ахмат Умарович, Минэнерго России
10:30 – 10:45
Состояние работ в сфере технического регулирования доверенных ПАК для КИИ
к.т.н. Гоголев Дмитрий Владимирович, ГК «Росатом», ТК 167
10:45 – 11:00
Обеспечение информационной безопасности значимых объектов КИИ с использованием доверенных аппаратных платформ
Юсупов Ренат Рафаэлович, АО «Крафтвэй корпорэйшн ПЛС»
11:00 – 11:20
Методический подход к разработке моделей угроз доверенности микросхем для КИИ
к.т.н. Кессаринский Леонид Николаевич, НИЯУ МИФИ, ТК 167.
11:20 – 11:30
Дискуссия, ответы на вопросы, подведение итогов заседания
11:30 – 12:00
Кофе-брейк
Заседание 4. Уязвимости в ЭКБ как фактор риска для ПАК объектов КИИ. Анализ сценариев атак, методы выявления и диагностики уязвимостей ЭКБ
Модератор:
член-корр. РАН, д.т.н., проф. Зегжда Дмитрий Петрович, СПбГПУ
к.т.н., доц. Кессаринский Леонид Николаевич, НИЯУ МИФИ

Рассмотрим вопросы возникновения и использования уязвимостей в ЭКБ, применяемой в ПАК критического назначения и их влияние на киберустойчивость КИИ.
Проанализируем природу появления, эксплуатации, выявления и диагностики феномена уязвимости. Особое внимание уделим нормативным аспектам доверия к ПАК в контексте устойчивости КИИ к кибератакам.
Представим подходы к подтверждению наличия уязвимостей в ПАК в условиях ограниченной прозрачности производственных цепочек и сложности обнаружения.
Предложим подход по оценке доверия к ПАК через мутацию встроенного ПО, а также методам сокращения объема испытаний за счет повышения плотности полезной информации о тестируемом объекте. Обсуждение охватывает не только теоретические подходы, но и практические примеры эксплуатации современных уязвимостей в ЭКБ ПАК критического назначения.
12:00 – 12:20
Исследование влияния природы феномена уязвимости на киберустойчивость ПАК и объектов КИИ. Анализ сценариев атак, основанных на эксплуатации уязвимостей в современной ЭКБ
член-корр. РАН, д.т.н., проф. Зегжда Дмитрий Петрович, Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого
12:20 – 12:35
Регуляторные и нормативные аспекты доверия к ПАК в контексте ИБ
д.т.н., проф. Марков Алексей Сергеевич, АО НПО «Эшелон», НИЯУ МИФИ
12:35 – 12:50
Сокращение объема испытаний за счет повышения плотности полезной информации о тестируемом объекте
к.т.н. Иванов Денис Вадимович, Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого
12:50 – 13:05
Оценка доверия к ПАК с помощью мутации встроенного программного обеспечения
к.т.н. Овасапян Тигран Джаникович, ООО «НеоБИТ»
13:05 – 13:20
Обеспечение доверия к встроенному ПО защищенных микроконтроллеров на всем жизненном цикле изделия
член-корр. РАН, д.т.н., проф. Шелупанов Александр Александрович, Томский университет систем управления и радиоэлектроники
13:20 – 13:30
Дискуссия, ответы на вопросы, подведение итогов заседания
26 сентября 2025
Заседание 5. Критерии и характеризация доверенности ЭКБ на стадиях разработки и кристального производства
Модераторы:
д.ф.-м.н. Хренов Григорий Юрьевич, АО «Байкал Электроникс»
к.т.н. Кравцов Александр Сергеевич, АО «НИИМЭ»
Прослеживаемый жизненный цикл – обязательный критерий доверенного изделия ЭКБ. Рассмотрим, что является критерием доверенных стадий разработки и кристального производства, как объективно разграничить результат собственной разработки и «чужой» продукт, на который приобретены права. Нужна ли и зачем идентификация разработчика и изготовителя пластин, если да, то какими способами?
Проанализируем практический опыт характеризации базовых технологических процессов.
10:00 – 10:30
Признаки и критерии доверенной разработки микросхем
д.ф.-м.н. Хренов Григорий Юрьевич, АО «Байкал электроникс»
10:30 – 10:45
Характеризация разработчика и изготовителя кристалла ИС – доверяй, но проверяй
к.т.н. Новоселов Алексей Юрьевич, АО «ПКК «Миландр»
10:45 – 11:00
Подход к характеризации базовых технологических процессов как условие доверенной разработки приемо-передающих микросхем для КИИ
к.т.н. Усачев Николай Александрович, НИЯУ МИФИ
11:00 – 11:15
Доверенные микросхемы: принципы разработки доверенных микросхем
к.т.н. Лебедев Александр Владимирович, ООО «НМ-Тех»
11:15 – 11:30
Дискуссия, ответы на вопросы, подведение итогов заседания
11:30-12:00
Кофе-брейк
Заседание 6. Критерии и характеризация доверенности ЭКБ на стадии сборочного производства
Модераторы:
д.т.н., проф. Никифоров Александр Юрьевич, НИЯУ МИФИ
к.ф.-м.н. Давлятшина Алена Андреевна, ФГУП «ВНИИР»
Рассмотрим стадию доверенной сборки микросхем для регулируемых рынков КИИ, сравним сборку в керамические и пластиковые корпуса, взвесим все за и против с учетом массового характера производства. Проанализируем возможности доверенного производства ЭКБ на покупных кристаллах.
12:00 – 12:05
Программа и цели заседания
д.т.н., проф. Никифоров Александр Юрьевич, НИЯУ МИФИ
12:05 – 12:25
Доверенная сборка в керамику и пластик – за и против
к.т.н. Куцько Павел Павлович, АО «НИИЭТ»
12:25 – 12:45
Массовое сборочное производство ЭКБ – опыт, проблемы и перспективы
Пластинин Сергей Владимирович, АО «Джиэс-Нанотех»
12:45 – 13:00
Рациональный подход к организации доверенного сборочного производства современных изделий силовой ЭКБ
Харченко Максим Эдуардович, АО «ВЗПП-С»
13:00 – 13:15
Обеспечение технологической безопасности на стадии корпусирования ЭКБ
Шумилин Сергей Сергеевич, АО «ПКК «Миландр»
13:15 – 13:30
Дискуссия, ответы на вопросы, подведение итогов заседания и трека в целом.
12 августа 2025 года состоялся вебинар «Доверенная ЭКБ микроэлектроники для регулируемых рынков критической информационной инфраструктуры».

Мероприятие прошло при участии информационных партнёров форума «Микроэлектроника 2025» – выставки ExpoElectronica и бизнес-сообщества Electronica Connect.

Спикерами вебинара выступили:
  • Дмитрий Гоголев, к.т.н., заместитель председателя ТК 167, Госкорпорация «Росатом».
  • Александр Никифоров, профессор, д.т.н., заместитель директора Центра экстремальной прикладной электроники (ЦЭПЭ) НИЯУ МИФИ
  • Леонид Кессаринский, к.т.н., руководитель РГ «ДИС» ТК 167, НИЯУ МИФИ.

Участники обсудили категории качества ЭКБ для регулируемых рынков КИИ, критерии и свойства доверенной ЭКБ микроэлектроники в сопоставлении со специальной и народнохозяйственной, виды технических требований к доверенной ЭКБ микроэлектроники, проведение оценки на соответствие требованиям доверенности.

Более подробно вопросы доверенной и экстремальной электроники будут рассмотрены на Предконференции №1 Научной конференции Форума «Микроэлектроника 2025».

Смотрите запись вебинара в наших сообществах:
ВКонтакте, Rutube