Оставьте заявку
Оставьте заявку и мы с вами свяжемся
Нажимая на кнопку вы даете согласие на обработку персональных данных. Политика конфиденциальности
Мы используем cookie файлы, как и большинство сайтов в интернете. Гарантируем сохранность ваших персональных данных.
предконференция №1
Доверенная и экстремальная электроника
8-12 сентября 2025
Москва, пр-т Андропова, д. 18/5
Москва, пр-т Андропова, д. 18/5
Предконференция №1 «Доверенная и экстремальная электроника»
Организатор
Под доверенностью (в широком смысле) понимается подтвержденное свойство изделия (ЭКБ, РЭА) удовлетворять потребности в соответствии с назначением в течение срока и в условиях эксплуатации, верифицируемости, тестопригодности и соответствия документации, санкционной стойкости, а также отсутствие недекларируемых включений, коррекций и возможностей управления и считывания информации, признаков контрафактного происхождения.
Под экстремальностью понимается подтвержденное свойство сохранения работоспособности изделия в «жестких» электрических режимах и условиях эксплуатации, в том числе при радиационных воздействиях, в расширенном диапазоне температур среды, в условиях электромагнитных наводок и помех, других внешних дестабилизирующих воздействий.
Под экстремальностью понимается подтвержденное свойство сохранения работоспособности изделия в «жестких» электрических режимах и условиях эксплуатации, в том числе при радиационных воздействиях, в расширенном диапазоне температур среды, в условиях электромагнитных наводок и помех, других внешних дестабилизирующих воздействий.
КООРДИНАТОР ПРЕДКОНФЕРЕНЦИИ
Никифоров Александр Юрьевич
доктор технических наук, профессор,
заместитель директора ЦЭПЭ НИЯУ МИФИ
Никифоров Александр Юрьевич
доктор технических наук, профессор,
заместитель директора ЦЭПЭ НИЯУ МИФИ
Тематика Предконференции «Доверенная и экстремальная электроника» охватывает широкий спектр вопросов создания, применения и контроля работоспособности ЭКБ и РЭА общего и специального назначения, в том числе:
– микропроцессоров и микроконтроллеров, других программно-управляемых систем, СФ-блоков, систем на кристалле (СнК) и систем в корпусе (СвК) на их основе, в том числе реализованных в условиях контрактного производства;
– ПЛИС, БМК, АЦБК, микросхемы памяти, интерфейсные схемы;
– аналого-цифровых и цифро-аналоговых преобразователей, систем сбора и обработки данных;
– аналоговых микросхем, стабилизаторов и преобразователей напряжения, источников питания;
– радиоэлектронных систем, приёмопередатчиков, СВЧ- и РЧ-ЭКБ для систем связи, навигации, радиолокации, электронной маркировки, беспилотного транспорта, интернета вещей и др.;
– полупроводниковых приборов и систем на их основе, в том числе мощных, высоковольтных, СВЧ, прецизионных;
– всех видов пассивных электронных и электротехнических изделий;
– индикаторов, дисплеев, изделий и систем оптоэлектроники, радиофотоники и лазерной техники.
В отношении перечисленных классов объектов к тематике Секции непосредственно относятся все вопросы:
– исследования, моделирование, проектирование, контроль, верификация и испытания ЭКБ, комплексов и систем для применения в объектах критической информационной инфраструктуры;
– обеспечения, испытаний и оценки надёжности, информационной безопасности, идентификации и выявления признаков контрафактного происхождения изделий;
– обеспечение, испытания и контроль качества, надёжности и радиационной стойкости изделий на всех этапах жизненного цикла с учётом влияния режимов, сроков и условий эксплуатации;
– разработка и применение методик и аппаратно-программных комплексов для тестирования и контроля работоспособности изделий ЭКБ и радиоэлектронных систем.
Предварительная конференция №1 проводится в сентябре в Москве на базе Консорциума НИЯУ МИФИ — АО «ЭНПО СПЭЛС» в смешанном очно-заочном (онлайн) формате как для докладчиков, так и для слушателей. Выступления на предварительной сессии будут проходить в форматах обзорного доклада (30 минут), доклада (20 минут), сообщения (15 минут) и краткого сообщения (10 минут) — указанный регламент включает время для ответов на вопросы и обсуждения.
УСЛОВИЯ УЧАСТИЯ
Гибкие финансовые условия участия в Форуме учитывают выбранный формат участия — очное или заочное, только в предконференции или во всех мероприятиях Форума, а также предусматривают существенные льготы для аспирантов и студентов, в том числе бесплатное заочное участие в предконференции. Принятые условия позволят всем категориям специалистов наиболее эффективно участвовать в работе конференции и публиковать свои работы при оптимальном бюджете участия, а также при минимизации влияния медицинских рисков и ограничений.
Докладчики Предконференции смогут опубликовать свои доклады в общем порядке, установленном для всех участников Форума. Докладчики Предконференции, участвующие в основных мероприятиях Форума, смогут разместить свой доклад в виде «постера» и участвовать в его обсуждении.
– микропроцессоров и микроконтроллеров, других программно-управляемых систем, СФ-блоков, систем на кристалле (СнК) и систем в корпусе (СвК) на их основе, в том числе реализованных в условиях контрактного производства;
– ПЛИС, БМК, АЦБК, микросхемы памяти, интерфейсные схемы;
– аналого-цифровых и цифро-аналоговых преобразователей, систем сбора и обработки данных;
– аналоговых микросхем, стабилизаторов и преобразователей напряжения, источников питания;
– радиоэлектронных систем, приёмопередатчиков, СВЧ- и РЧ-ЭКБ для систем связи, навигации, радиолокации, электронной маркировки, беспилотного транспорта, интернета вещей и др.;
– полупроводниковых приборов и систем на их основе, в том числе мощных, высоковольтных, СВЧ, прецизионных;
– всех видов пассивных электронных и электротехнических изделий;
– индикаторов, дисплеев, изделий и систем оптоэлектроники, радиофотоники и лазерной техники.
В отношении перечисленных классов объектов к тематике Секции непосредственно относятся все вопросы:
– исследования, моделирование, проектирование, контроль, верификация и испытания ЭКБ, комплексов и систем для применения в объектах критической информационной инфраструктуры;
– обеспечения, испытаний и оценки надёжности, информационной безопасности, идентификации и выявления признаков контрафактного происхождения изделий;
– обеспечение, испытания и контроль качества, надёжности и радиационной стойкости изделий на всех этапах жизненного цикла с учётом влияния режимов, сроков и условий эксплуатации;
– разработка и применение методик и аппаратно-программных комплексов для тестирования и контроля работоспособности изделий ЭКБ и радиоэлектронных систем.
Предварительная конференция №1 проводится в сентябре в Москве на базе Консорциума НИЯУ МИФИ — АО «ЭНПО СПЭЛС» в смешанном очно-заочном (онлайн) формате как для докладчиков, так и для слушателей. Выступления на предварительной сессии будут проходить в форматах обзорного доклада (30 минут), доклада (20 минут), сообщения (15 минут) и краткого сообщения (10 минут) — указанный регламент включает время для ответов на вопросы и обсуждения.
УСЛОВИЯ УЧАСТИЯ
Гибкие финансовые условия участия в Форуме учитывают выбранный формат участия — очное или заочное, только в предконференции или во всех мероприятиях Форума, а также предусматривают существенные льготы для аспирантов и студентов, в том числе бесплатное заочное участие в предконференции. Принятые условия позволят всем категориям специалистов наиболее эффективно участвовать в работе конференции и публиковать свои работы при оптимальном бюджете участия, а также при минимизации влияния медицинских рисков и ограничений.
Докладчики Предконференции смогут опубликовать свои доклады в общем порядке, установленном для всех участников Форума. Докладчики Предконференции, участвующие в основных мероприятиях Форума, смогут разместить свой доклад в виде «постера» и участвовать в его обсуждении.